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解析者:高橋昭公
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調査内容
調査の狙い

技術分類毎の出願件数推移及び主要各社の出願件数推移を調査し、半導体マウントの特許出願動向を調査した。特に、次の事項を重点的に調査した。

  1. 半導体マウントの特許出願動向
  2. 半導体マウントの技術動向(FI分析)
  3. 主要各社の重点技術動向とその比較(FI分析)
  4. 主要発明者の重点技術動向(FI分析)
調査方法 国際特許分類H01L23/12 及びその下位分類(半導体マウント,例.分離できない絶縁基板)が付与された情報を収集し、データ変換およびデータベースの構築を実施し、特許解析ソフト(PAT-LIST-INT)を使用して情報解析を実施した。
対象情報 1993年1月1日より2003年3月31日までに公開された11,181件の特許情報
発行日 2003年9月6日